轴类件光学测量系统 Opticline CA系列

德国业纳 JENOPTIK集团 轴类件光学测量系统 Opticline CA系列

Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统可满足极高的自动化要求。
它们以重复精度提供工件的精密测量数据。

业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口，可以将这些系统灵活无缝地集成到您的自动化生产过程中。我们的系统提供高精密且可靠的测量结果– 即使在恶劣的生产环境下长期操作后，也可以做到这一点。
轴测量系统的测量周期只有几秒，令人印象深刻。这意味着您可以高效检测生产，并减少浪费。这些系统采用多种设计，因此可以水平或垂直装载。我们还针对特别大型和重型的轴提供了特殊的测量系统。如有必要，我们可以针对您的具体需求量身定制我们的系统。
我们的测量和评估软件具有全面的功能，并且提供了用于控制校正值的额外选项，还可以轻松集成在制造过程中。该程序易于理解且易于操作。

优点

• 精密、快速：高测量精度；操作员对结果没有影响。该测量系统可以集成到加工过程中。
• 符合人体工学且安全：可以自动装载；即使是重型的工件也可以轻松处理。
• 坚固耐用，几乎无磨损：已经过优化，适合在生产中使用。
• 高效：可减少浪费和材料消耗。
• 客户定制：可设计水平和垂直系统，外壳和机柜可根据项目定制，可根据您的工件和测量任务定制系统。
• 易于理解的操作软件：培训易于理解，操作直观。