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轴类件光学测量系统 Opticline C系列
发布时间：2020.03.17 阅读量：3114
- 所属分类： 轴类件光学测量系统
- 品牌：德国-业纳JENOPTIK
- 型号：Opticline C系列
- 发布日期：2020/03/17
产品描述
德国业纳Jenoptik集团 轴类件光学测量系统 Opticline C系列
德国业纳Jenoptik集团 轴类件光学测量系统Opticline 系统提供多项智能自动监测功能，以便持续执行质量保证。此外，这些系统在质量参数的可追溯性和记录方面树立了新标准
这可以保证您的生产过程具有最高的质量水平，确保公司可以实现长期的经济成功。
全新的 Opticline 。衡量您可以获得的益处。
测量过程速度显著加快
在最短的测试时间内实现绝对精密 - 我们新推出的 Opticline 系统将灵活的测量方式与最大限度的易用性相结合。
它们将质量提升到全新的水平，并针对复杂的应用提供了一种全新的方法。无论是创建测试计划还是执行复杂的测量运行，我们的评估软件都会针对您需要完成的任何任务，为您提供可靠的支持。以最高水平的重现性和精密度执行质量保证。
更接近生产的测量
质量保证工作直接在生产过程中启动。因此，我们的 OPTICLINE 系统更坚固耐用、更有弹性、更加精密，并且可以放置在您的生产环境中。这体现了我们对工业测量的支持。
缩短操作路线，把费用降到最低，减少返工，并减少误差来源。操作非常容易，使用寿命可能最长，值得您信任。用于最大限度提高生产中的可靠性
C 系列的测量系统
业纳的高精密测量系统用于安全可靠地进行光学轴测量。这些系统非常适合用于制造环境，可确保达到最佳的质量控制效果。这些仪器非常坚固耐用，除了用于测量室外，还非常适合用于工业环境。这种测量以重复精度提供稳定的结果。这意味着即使在制造过程中，您也可以测试工件，确保获得最高的质量。
我们在 Opticline C 系列内提供不同的型号。这些型号的工件能力各不相同。您可以选择完全满足自己要求的测量系统。较小和较大的工件（可达 900毫米）可测量到微米级别。
适合特别大型和重型工件的 C10xx 系列光学测量系统
光学测量系统 Opticline WMS 的机械设计使其能够处理超过平均值、重量达 120 千克的工件大小。
系统亮点：
得益于独一无二、级联的摄像系统，
可在整个测量范围中针对直径达 320 毫米的工件
提供最高的分辨率和测量 精度。
可根据您的集成要求进行调整 - 水平或垂直设计。
即使对非常大的工件，也可以瞬间完成测量。
可采用操作员自检和全自动使用方式。
技术数据
C 系列 Opticline 轴测量系统具有不同型号， 因此能够以一贯的高质量水平处理范围广泛的轴类和测量任务。
系统亮点
• 紧凑型测量系统，可在生产环境中进行操作员控制的检查
• 支持对长度达 900 毫米和直径达 140 毫米的工件进行多级缩放
• 评估软件易于使用、结构清晰，可简单地定义个性化的测试计划
• 可根据客户的特定应用进行调整
产品变型和可选件
• 触觉探测系统，用于测量其他长度和形状测试特性
• 高精密度的主轴箱，可提供更高的形状量规重复性和重现性，以及更好的旋转测量
• 集成的评估和测量计算机
• 卷闸可防止负面的环境影响
• 气动夹紧解决方案，提供更大的灵活性和，适合更多种类的工件
• 台架可用于以工作高度实际装载和提供额外的存储空间
• 夹紧装置、条形码阅读器和工件温度检测系统等配件
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